球差校正透射电子显微镜(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope)

发布者:马世玉发布时间:2024-04-17浏览次数:229

型号:JEM-ARM200F NEOARM 

主要参数

分辨率:STEM HAADF 图像:70 pm (200 kV)100 pm (80 kV)

TEM 信息分辨率:100 pm (200 kV)110 pm (80 kV)

电子枪:标配冷场电子枪

球差校正器:STEM: NEO ASCOR

校正器自动合轴系统:日本电子NEO JEOL COSMO™ 自动合轴系统、Ad-hock合轴(SIAM

加速电压:最高200 kV( 标配80200 kV

配备能谱仪,EELS能量损失谱系统

无磁场模式:标配洛伦兹模式、放大倍数 ( ×50 80 k荧光屏为参考面)

样品移动系统:X,Y,Z 轴高精度机械驱动、标配超高精度压电陶瓷驱动

操作类型RDS*4 操作模式*4

主要用途

微结构解析:包括获得材料微区的形貌、晶体结构、元素组成等。

无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。