透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope)

发布者:马世玉发布时间:2024-04-17浏览次数:202

型号:Talos F200S

主要参数

1.热场发射电子枪,加速电压200kV.

2.HRTEM最大放大倍率105万倍,信息分辨率0.12nmSTEM分辨率0.16nm.

3.配置洛伦兹透镜,保证在无场环境下对磁性样品的观察,洛伦兹模式下点分辨小于2.5nm.

4.配备多分割式STEM探头与实时DPC/iDPC成像模块,可用于轻重元素同时成像以及样品电、磁等内势场的研究.

5.全自动光阑系统,CrystalPack软件包自动倾转到材料分析所需的晶带轴

主要用途

1.微结构解析,包括获得材料微区的形貌、晶体结构、元素组成等.

2.磁结构观察,即磁性材料中磁畴的形态、种类,外加磁场下磁畴的演变过程.

3.温度、磁场等作用下,材料的微结构、磁结构的动态响应过程观察.