主要参数
扫描器非线性 ≤ 0.03%
扫描方式：全针尖扫描（XYZ三个方向均采用针尖扫描）
最大扫描范围(X*Y*Z) ：100 μm×100 μm×15 μm
最大样品尺寸：直径140mm，高度18mm
主要用途
原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，简称AFM）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。AFM能够在大气及液体环境下准确地观测样品表面微区(纳米及亚微米尺度)三维形貌；能够直接观测非导电样品，不需要对样品进行复杂的处理；同时可对样品表面诸多特性进行研究，如表面电势、磁场力、静电力、摩擦力等，广泛应用于材料学、物理学、化学、生物学等领域。
AFM-纳米形貌测试AFM-磁性能测试